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電磁兼容EMC測(cè)試常用基礎(chǔ)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些

文章出處:環(huán)測(cè)威 人氣:50發(fā)表時(shí)間:2025-04-10

電磁兼容EMC測(cè)試常用基礎(chǔ)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些?電磁兼容性測(cè)試(Electro Magnetic Compatibility - EMC測(cè)試)是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。通俗一點(diǎn)說(shuō),就是產(chǎn)品工作起來(lái)時(shí)不受外界的電磁干擾,自身發(fā)射出來(lái)的電磁信號(hào)也不會(huì)干擾周?chē)渌碾娮釉O(shè)備。各自達(dá)到一個(gè)相互兼容的狀態(tài)。


  電磁兼容測(cè)試基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)主要是指GB/T17626系列標(biāo)準(zhǔn),我們學(xué)習(xí)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也是從基礎(chǔ)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)起。

  1.GB/T17626.1-2006,IEC61000-4-1:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論》;

  2.GB/T17626.2-2018,IEC61000-4-2:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》;

  3.GB/T17626.3-2023,IEC61000-4-3:2020《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》;

  4.GB/T17626.4-2018,IEC61000-4-4:2012《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》;

  5.GB/T17626.5-2019,IEC61000-4-5:2014《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》;

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  6.GB/T17626.6-2017,IEC61000-4-6:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》;

  7.GB/T17626.7-2017,IEC61000-4-7:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器的導(dǎo)則》;

  8.GB/T17626.8-2006,IEC61000-4-8:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》;

  9.GB/T17626.9-2011,IEC61000-4-9:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》;

  10.GB/T17626.10-2017,IEC61000-4-10:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》;

  11.GB/T17626.11-2008,IEC61000-4-11:2004《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》;

  12.GB/T17626.12-2013,IEC61000-4-12:2006《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振鈴波抗擾度試驗(yàn)》;

  13.GB/T17626.13-2013,IEC61000-4-13:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)》;

  14.GB/T17626.14-2005,IEC61000-4-14:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)》;

  15.GB/T17626.15-2011,IEC61000-4-15:1997《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范》;


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